高低溫試驗箱試驗方法

     GB/T 2423.2-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法
     
    試驗B：高溫 ：簡介：本標準敘述的高溫試驗適用于散熱和非散熱兩類試驗樣品。

對于非散熱試驗樣品，試驗Ba和Bb基本上不違背早期發(fā)行的標準。本高溫試驗的目的**于確定件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在高溫環(huán)境條件下使用或貯存的適應(yīng)性。本高溫試驗不能用來評價試驗樣品的耐溫度變化性和在溫度變化期間的工作能力。在這種情況下。應(yīng)當采用試驗N:溫度變化試驗方法。

   
    高溫試驗方法分為:非散熱試驗樣品高溫試驗:試驗Ba:溫度突變(溫度沖擊試驗箱);試驗Bb，溫度交變(高低溫交變試驗箱)。散熱試驗樣品高溫試驗:試驗Bc:溫度突變(溫度沖擊試驗箱);試驗Bd:溫度交變(高低溫交變試驗箱)。本試驗方法通常用于條件試驗期間能達到溫度穩(wěn)定的試驗樣品。試驗持續(xù)時間是從試驗樣品溫度達到穩(wěn)定時開始計算。在特殊情況下，如果條件試驗期間試驗樣品達不到溫度穩(wěn)定。則試驗持續(xù)時間從試驗箱(室)達到規(guī)定試驗溫度時開始計算。相關(guān)規(guī)范應(yīng)規(guī)定:a)試驗箱(室)內(nèi)溫度變化速率;b)試驗樣品放入試驗箱(室)的時間;c)試驗樣品在試驗條件下暴露開始的時間;d)試驗樣品通電或加負載的時間。對于這些情況，相關(guān)規(guī)范的制定者可根據(jù)GB/T2424.1-1989導(dǎo)則選定以上4個參數(shù)。